Quadrupole四级杆二次离子质谱仪可全面支持静态二次离子质谱（Static SIMS）、成像二次离子质谱（Imaging SIMS）以及动态（深度剖面）二次离子质谱（Dynamic SIMS）三种工作模式。

Quadrupole四级杆二次离子质谱仪是一款高性价比且经久耐用的产品，它是研究样品表面化学成分的理想选择，适用于研发和工业质量控制应用。

MiniSIMS——屡获殊荣的台式二次离子质谱仪（SIMS）表面化学分析系统。
赛恩斯（SAI）公司创新研发的MiniSIMS仪器荣获欧洲及美国多项殊荣，其中包括R&D100奖。该台式设备对实验室空间和配套设施要求极低，却可全面支持静态二次离子质谱（Static SIMS）、成像二次离子质谱（Imaging SIMS）以及动态（深度剖面）二次离子质谱（Dynamic SIMS）三种工作模式。结合其高通量分析能力，相较于传统的超高真空SIMS设备，单个样品的检测成本最高可降低90%。

为何选择 SIMS ？
与多种空间分辨元素分析技术（通常基于单个原子的信息采集）不同，二次离子质谱（SIMS）不仅适用于无机成分分析，还可有效实现有机物种类的空间分布成像。SIMS 的采样深度显著小于大多数其他表面分析技术，结合其优异的检测灵敏度，能够在较短时间内对薄层结构及界面区域获取更为精细的化学信息。此外，SIMS 具备区分同一元素不同同位素的能力，并可高效检测和分析锂、硼等轻元素，展现出独特而广泛的应用优势。

MiniSIMS 非常适合用于进行表面污染的常规中期检查，以便在进行后续昂贵的加工步骤之前，将有缺陷的物品撤出。
例如，如果要对某个表面进行涂漆或与其他材料粘合，其清洁度对于涂层质量或粘合强度至关重要。在界面和表面研究中，分析不能被底层材料的信号所淹没，这就要求所用技术的采样深度足够小，以排除这些信号。二次离子质谱（SIMS）是所有表面分析技术中采样深度最小的技术之一，因此特别适合分析通常覆盖在预期纯净材料表面的极薄污染层。

Quadrupole四级杆二次离子质谱仪不仅能够识别无机和元素污染物，而且与许多其他分析技术不同，它还能对可能存在的任何有机污染物进行详细分析。

MiniSIMS Alpha应用领域:

表面化学

黏附力

分层

印刷适性

表面改性

等离子体处理

痕量分析（表面ppm）

催化剂

同位素分析

表面污染